X射線熒光光譜儀是一種可以對任何種類的樣品進(jìn)行元素分析的儀器，無論要分析的樣品是液體、固體還是粉末。XRF技術(shù)將準(zhǔn)確度和精密度與簡單和快速的樣品準(zhǔn)備完美結(jié)合，對鈹(Be)到鈾(U)的元素喜遷分析，濃度范圍從100%到低至亞ppm級。波長色散X射線熒光光譜測定法以其的準(zhǔn)確度、精密度和可靠性著稱。這種強(qiáng)大的分析技術(shù)，使其可用于所有形式的工業(yè)應(yīng)用，例如水泥、聚合物、煉油廠、采礦及工業(yè)礦物等。
X射線熒光光譜儀的無標(biāo)樣和定量分析方法如下：
一、X射線熒光光譜儀無標(biāo)樣分析方法
對于以固體進(jìn)樣為主的X射線熒光分析技術(shù)，要獲得一套高質(zhì)量的固體標(biāo)準(zhǔn)樣品有一定難度，限制了X射線熒光分析的應(yīng)用范圍。
而X射線熒光光譜無標(biāo)樣分析技術(shù)是90年代推出的新技術(shù)，其目的是不用標(biāo)準(zhǔn)樣品也可以分析各種樣品。它的基本思路是：由儀器制造商測量標(biāo)準(zhǔn)樣品，儲存強(qiáng)度和工作曲線，然后將這些數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)到用戶的X射線熒光分析系統(tǒng)中，并用隨軟件提供的參考樣品校正儀器漂移。因此，無標(biāo)樣分析不是不需要標(biāo)樣，而是將工作曲線的繪制由儀器制造商來做，用戶將用戶儀器和廠家儀器之間的計數(shù)強(qiáng)度差異進(jìn)行校正。其優(yōu)點是采用了制造商的標(biāo)樣、經(jīng)驗與知識，包括測量條件，自動譜線識辨，背景扣除，譜線重疊校正，基體校正等。無標(biāo)樣分析技術(shù)可以在沒有標(biāo)準(zhǔn)樣品的情況下分析各種樣品中的七十幾個元素，應(yīng)用范圍較廣，但其適用性也帶來了分析準(zhǔn)確度的局限性。
二、X射線熒光光譜儀定量分析方法
X射線熒光光譜法是一種相對分析方法，光譜儀只提供X射線熒光的強(qiáng)度，要找到熒光強(qiáng)度與樣品濃度的關(guān)系，需要一套高質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)元素的濃度和已測的該元素的特征譜線的強(qiáng)度按一定關(guān)系進(jìn)行擬合繪制工作曲線，以該工作曲線為基礎(chǔ)測試同類型樣品元素的組成和含量。
以上就是X射線熒光光譜儀的兩種分析方法介紹，供大家參考！
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